61. Reasoning in boolean networks : logic synthesis and verification using testing techniques
پدیدآورنده: Kunz, Wolfgang
کتابخانه: كتابخانه پردیس علوم دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Testing -- Data processing ، Integrated circuits -- Very large scale integration,Data processing ، Integrated circuits -- Verification,Data processing ، Logic design
رده :
TK
7874
.
K866
1997
62. Self-testing VLSI design
پدیدآورنده: / V.N. Yarmolik, I.V. Kachan
کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکده‌های فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing,Integrated circuits - Very large scale integration - Design
رده :
TK
7874
.
I16
1993
63. Soft errors in modern electronic systems
پدیدآورنده: Michael Nicolaidis, editor
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Very large scale integration ، Integrated circuits,Effect of radiation on ، Electronic apparatus and appliances
رده :
TK
7874
.
75
.
S64
2011
64. System-on-chip test architecture
پدیدآورنده: / edited by Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع: Systems on a chip--Testing,Integrated circuits--Very large scale integration--Testing,Integrated circuits--Very large scale integration--Design
رده :
TK
,
7895
,.
E42
,
S978
,
2008eb
65. System-on-chip test architectures
پدیدآورنده: edited by Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع: Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing,Systems on a chip-- Testing
رده :
TK7895
.
E42
S978
2008
66. System-on-chip test architectures :
پدیدآورنده: edited by Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع: Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing,Systems on a chip-- Testing
رده :
TK7895
.
E42
S978
2008
67. System-on-chip test architectures : nanometer design for testability
پدیدآورنده: edited by Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba
کتابخانه: کتابخانه پژوهشگاه دانشهای بنیادی (تهران)
موضوع: Testing ، Systems on a chip,Testing ، Integrated circuits -- Very large scale integration,Design ، Integrated circuits -- Very large scale integration
رده :
TK
7895
.
E42S97
68. System-on-chip test architectures: nanometer design for testability
پدیدآورنده:
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (تهران)
موضوع: Testing ، Systems on a chip,Testing ، Integrated circuits-- Very large scale integration,، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design
رده :
TK
7895
.
E42
.
S978
2008
69. Test and diagnosis for small-delay defects
پدیدآورنده: / Mohammad Tehranipoor, Ke Peng and Krishnendu Chakrabarty
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع: Integrated circuits--Very large scale integration--Defects,Integrated circuits--Very large scale integration--Testing,Delay faults (Semiconductors)
رده :
TK
,
7874
,.
T4323
,
2011
70. Test and diagnosis for small-delay defects
پدیدآورنده: / Mohammad Tehranipoor, Ke Peng and Krishnendu Chakrabarty
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد و انتشارات دانشگاه تبریز (آذربایجان شرقی)
موضوع: Integrated circuits--Very large scale integration--Defects,Integrated circuits--Very large scale integration--Testing,Delay faults (Semiconductors)
رده :
TK7874
.
T4323
2011
71. Test generation of crosstalk delay faults in VLSI circuits
پدیدآورنده:
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع: Integrated circuits ; Very large scale integration ; Testing. ;
72. Test generation of crosstalk delay faults in VLSI circuits /
پدیدآورنده: S. Jayanthy, M.C. Bhuvaneswari.
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع: Crosstalk.,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing.,Circuits and Systems.,Control Structures and Microprogramming.,Logic Design.,Performance and Reliability.,Algorithms & data structures.,Circuits & components.,Computer architecture & logic design.,Crosstalk.,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing.,Systems analysis & design.,TECHNOLOGY & ENGINEERING / Mechanical
رده :
TK7874
.
75
73. Testing and diagnosis of VLSI and ULSI
پدیدآورنده: edited by Fabrizio Lombardi and Mariagiovanna Sami
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Very large scale integration - Testing - Congresses ، Integrated circuits,Ultra large scale integration - Testing - Congresses ، Integrated circuits
رده :
TK
7874
.
N345
1987
74. Testing and diagnosis of VLSI and ULSI
پدیدآورنده :
موضوع : ، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing-- Congresses,، Integrated circuits-- Ultra large scale integration-- Testing-- Congresses
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
75. Testing and diagnosis of VLSI and ULSI
پدیدآورنده: NATO Advanced Study Institute on Testing and Diagnosis of VLSI and ULSI )7891: Como, Italy(
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه صنعتی خواجه نصير الدين طوسى (تهران)
موضوع: ، Integrated circuits- Very large scale integration- Testing- Congresses,، Integrated circuits- Ultra large scale integration- Testing- Congresses
رده :
TK
7874
.
N345
1987
76. Testing and diagnosis of VLSI and USLI
پدیدآورنده: / Edited by Fabrizio Lombardi and Maria Giovannasami
کتابخانه: کتابخانه مرکزی پردیس 1 فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Integrated circuits--Very large scale integration - Testing-Congresses
رده :
TK
7874
.
N345
1987
77. Testing and reliable design of CMOS circuits
پدیدآورنده: Jha, Niraj K.
کتابخانه: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (تهران)
موضوع: ، Metal oxide semiconductors, Complimentary- Testing,، Metal oxide semiconductors, Complimentary- Reliability,، Integrated circuits- Very large scale integration- Design and construction
78. Testing and reliable design of CMOS circuits
پدیدآورنده: Jha, Niraj K.
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه صنعتی خواجه نصير الدين طوسى (تهران)
موضوع: ، Metal oxide semiconductors, Complimentary -- Testing,، Metal oxide semiconductors, Complimentary -- Reliability,، Integrated circuits -- Very large scale integration -- Design and construction
رده :
TK
7871
.
99
.
M44
J49
79. Tutorial-VLSI testing and validation techniques
پدیدآورنده: )compiled by( Hassan K. Reghbati
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Very large scale integration - Testing ، Integrated circuits
رده :
TK
7874
.
T8855
1985
80. Tutorial--VLSI testing & validation techniques
پدیدآورنده:
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (تهران)
موضوع: Testing ، Integrated circuits-- Very large scale integration
رده :
TK
7874
.
T8855
1985
